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FM-Nanoview EC-AFM環(huán)境控制型原子力顯微鏡（光學金相顯微鏡原子力一體機）
- 公司名稱：
- 更新時間：
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- 瀏覽次數：
- 北京世紀科信科學儀器有限公司
- 2024-05-29 17:24:13
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【簡單介紹】
【詳細說明】
產品介紹
原文鏈接： /products/pe/afm/ec-afm/
FM-Nanoview EC-AFM產品特點
- 光學金相顯微鏡和原子力顯微鏡一體化設計，功能強大
- 同時具備光學顯微鏡和原子力顯微鏡成像功能，兩者可同時工作，互不影響
- 可同時在普通空氣環(huán)境、液體環(huán)境、溫度控制環(huán)境、惰性氣體控制環(huán)境下工作
- 樣品掃描臺和激光檢測頭封閉式設計，內部可充放特殊氣體，無需增加密封罩
- 激光檢測采用了垂直光路設計，配合氣液兩用型探針架可在液體下工作
- 單軸驅動樣品自動垂直接近探針，使針尖垂直于樣品掃描
- 馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品
- 超高倍光學定位系統，實現探針和樣品掃描區(qū)域精確定位
- 集成掃描器非線性校正用戶編輯器，納米表征和測量精度優(yōu)于98%
應用案例
技術參數
EC-AFM技術參數
