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JW-BK112基礎(chǔ)型氧化鋯比表面及孔徑測(cè)試儀
- 公司名稱(chēng)：
- 更新時(shí)間：
- 所 在 地：
- 生產(chǎn)地址：
- 瀏覽次數(shù)：
- 北京精微高博科學(xué)技術(shù)有限公司
- 2021-02-22 14:58:52
- 723
【簡(jiǎn)單介紹】
【詳細(xì)說(shuō)明】
| 儀器型號(hào)： | JW-BK112 |
| 原理方法： | 氣體吸附法，靜態(tài)容量法； |
| 測(cè)試功能： | 等溫吸脫附曲線；單點(diǎn)、多點(diǎn)BET比表面積；Langmuir比表面積；外表面積（STSA）；單點(diǎn)吸附總孔體積、平均孔徑；BJH介孔大孔孔容積及孔徑分布分析；t-plot法、as- plot法、DR法、MP法微孔常規(guī)分析；平均粒徑估算； 特殊功能：NLDFT法孔徑分布分析；真密度精確測(cè)試；氣體吸附量、吸附熱測(cè)試；質(zhì)量輸入法測(cè)試； |
| 測(cè)試氣體： | 氮、氧、氫、氬、氪、二氧化碳、甲烷等; |
| 測(cè)試范圍： | 比表面0.0005m2/g至無(wú)上限，孔徑3.5 ?-5000 ?； 孔體積測(cè)試范圍:0.0001cc/g至無(wú)上限； |
| 重復(fù)精度： | 比表面積≤± 1.0%，孔徑≤0.2 ?； |
| 測(cè)試效率： | 比表面積平均每樣30min；介孔、大孔分析平均每樣4-6小時(shí)； |
| 分析站： | 2個(gè)測(cè)試位，可同位脫氣； |
| P0位： | 可實(shí)時(shí)、準(zhǔn)確測(cè)量氮?dú)獾娘柡驼羝麎海?/td> |
| 升降系統(tǒng)： | 2個(gè)樣品測(cè)試位原位設(shè)有2套獨(dú)立的升降系統(tǒng)，電動(dòng)控制、自動(dòng)控制，且互不干擾； |
| 真空系統(tǒng)： | 多通路并聯(lián)抽真空系統(tǒng)，集裝式模塊化設(shè)計(jì)，真空抽速微調(diào)閥系統(tǒng)技術(shù)，可在2-200ml/s范圍內(nèi)自動(dòng)調(diào)節(jié)； |
| 真空泵： | *機(jī)械真空泵，極限真空6.7* 10-2Pa； |
| 脫氣系統(tǒng)： | 同位、異位真空脫氣預(yù)處理系統(tǒng)模塊化設(shè)計(jì)。標(biāo)配2套同位脫氣系統(tǒng)，2個(gè)獨(dú)立加熱包，2套獨(dú)立溫控表，均可程序升溫控制，升溫階數(shù)多達(dá)10階；另可選配外置式異位4位真空脫氣系統(tǒng)； |
| 脫氣溫度： | 室溫—400℃，精度±1℃； |
| 壓力傳感： | *，1000torr，精度≤± 0.15％（讀值）； |
| 分壓范圍： | P/P0 10-4-0.998； |
| 壓力控制： | 平衡壓力智能控制法，壓力可控間隔＜0.1KPa，吸附壓力點(diǎn)可自動(dòng)控制； |
| 數(shù)據(jù)采集： | 以太網(wǎng)數(shù)據(jù)采集，采集速度快、精度高，兼容Windows 7/XP 32/64位系統(tǒng)； |
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